新闻动态

XINWENDONGTAI

我院在场地调查中采用薄膜界面探测器调查技术



发布时间: 2014/6/24   访问次数:   信息来源:

          我院工程所在某化工场地的场地环境调查过程中采用薄膜界面探测器(以下简称“MIP”)调查技术,该技术在国外场地调查应用相当广泛,原理是利用半透膜可允许挥发性有机分子通过,却无法允许水通过之选择特性,贯入地表以下时以加热片将土壤或地下水升温使VOCs物质产生挥发作用,此时因VOCs气体浓度梯度变化,而扩散渗入膜内进入探针内部,再依各偶极电极的配置,测量FIDECD反应值。然后,通过数据分析,快速侦测浅层地表下碳氢化合物、含氯有机污染物的浓度分布及其迁移路径,并初步判断地下水中是否存在DNAPL(非水相液体)。
    该技术可以作为污染场地确定土壤和地下水修复范围的辅助手段,通过描绘场地土壤和地下水污染三维模拟,与实验室分析结果相结合,最终确定土壤和地下水修复范围,为下一步修复提供有力支撑.